Autor: nina

EQUIPOS Y COMPONENTES ELECTRÓNICOS-MÉTODOS DE PRUEBAS AMBIENTALES Y DE DURABILIDAD-PARTE 2-41. PRUEBAS. PRUEBA Z/BM: PRUEBA COMBINADA DE CALOR SECO Y BAJA PRESIÓN ATMOSFÉRICA (CANCELA A LA NMX-I-007/2-52-NYCE-2007)

EQUIPOS Y COMPONENTES ELECTRÓNICOS-MÉTODOS DE PRUEBAS AMBIENTALES Y DE DURABILIDAD-PARTE 2-40. PRUEBAS. PRUEBA Z/AM: PRUEBA COMBINADA DE FRÍO Y BAJA PRESIÓN ATMOSFÉRICA (CANCELA A LA NMX-I-007/2-50-NYCE-2007)

ELECTRONICA-PRUEBAS AMBIENTALES-PARTE 2-39: PRUEBAS-PRUEBA Z/AMD: PRUEBA SECUENCIAL COMBINADA DE FRIO, BAJA PRESION DE AIRE Y CALOR HUMEDO. (CANCELA A LA NMX-I-007/2-51-NYCE-2007)

ELECTRONICA-PRUEBAS AMBIENTALES-PARTE 2-30: PRUEBAS -PRUEBA DB: PRUEBA CICLICA DE CALOR HUMEDO (CICLO DE 12 H + 12 H). (CANCELA A LA NMX-I-007/2-14-NYCE-2008)

ELECTRONICA-PRUEBAS AMBIENTALES-PARTE 2-17: PRUEBAS-PRUEBA Q: SELLADO. (CANCELA A LAS NMX-I-007/2-35-NYCE-2007, NMX-I-007/2-36-NYCE-2007, NMX-I-007/2-37-NYCE-2007, NMX-I-007/2-38-NYCE-2007, NMX-I-007/2-39-NYCE-2007 Y NMX-I-007/2-40-NYCE-2007)

ELECTRONICA-PRUEBAS AMBIENTALES-PARTE 2-13-PRUEBAS-PRUEBA M: BAJA PRESION ATMOSFERICA. (CANCELA A LA NMX-I-007/2-30-NYCE-2007)

ELECTRONICA-PRUEBAS AMBIENTALES-PARTE 2-11: PRUEBAS-PRUEBA KA: NIEBLA SALINA. (CANCELA A LA NMX-I-007/2-27-NYCE-2007)

ELECTRONICA-PRUEBAS AMBIENTALES-PARTE 2-10: PRUEBAS-PRUEBA J Y GUIA: CRECIMIENTO DE HONGOS. (CANCELA A LA NMX-I-007/2-26-NYCE-2008)

EQUIPO ELECTRÓNICO-APARATOS DE AUDIO, VIDEO Y APARATOS ELECTRÓNICOS ANÁLOGOS-REQUISITOS DE SEGURIDAD (CANCELA A LA NMX-I-062-NYCE-2002).

ELECTRÓNICA – EQUIPO ELECTRÓNICO – SERIES DE VALORES NORMALES PARA RESISTORES Y CAPACITORES ESTA NORMA MEXICANA CANCELA LA (NMX-I-017-NYCE-2005)