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Normas

NOM-239-SE-2020

Publicación en el DOF

Información principal

Clave de la Norma: NOM-239-SE-2020

Título de la Norma: Chile Yahualica (Capsicum annuum L.)-Denominación-Especificaciones, información comercial y métodos de prueba.

Estado de la Norma: Vigente

Fecha de publicación en el DOF: 29/3/2021

Fecha de entrada en vigor: 25/9/2021

Información general

Producto, servicio, proceso o sistema: Chile Yahualica

Dependencia(s):

  • Secretaría de Economía

Comité que desarrolló la Norma:

  • Comité Consultivo Nacional de Normalización de la Secretaría de Economía

Concordancia internacional

  • La presente Norma Oficial Mexicana es no equivalente (NEQ) con ninguna norma internacional, ya que no es posible concordar debido a la Denominación de Origen “Yahualica” de uso exclusivo en México.

    • Grado: No equivalente

    Referencias Normativas

    • NORMA Oficial Mexicana NOM-051-SCFI/SSA1-2010, Especificaciones generales de etiquetado para alimentos y bebidas no alcohólicas preenvasados-Información comercial y sanitaria.

      Enlace

    • NOM-251-SSA1-2009, Prácticas de higiene para el proceso de alimentos, bebidas o suplementos alimenticios.

      Enlace

    • NORMA Oficial Mexicana NOM-106-SCFI-2017, Características de diseño y condiciones de uso de la Contraseña Oficial.

      Enlace

    Bibliografía

    • NORMA Oficial Mexicana NOM-051-SCFI/SSA1-2010, Especificaciones generales de etiquetado para alimentos y bebidas no alcohólicas preenvasados-Información comercial y sanitaria.

      Enlace

    • NOM-251-SSA1-2009, Prácticas de higiene para el proceso de alimentos, bebidas o suplementos alimenticios.

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    • NORMA Oficial Mexicana NOM-106-SCFI-2017, Características de diseño y condiciones de uso de la Contraseña Oficial.

      Enlace

    • ley de Infraestructura de la Calidad

      Enlace
      • ?

    • Ley Federal sobre Metrología y Normalización

      Enlace
      • ?

    • Reglamento de la Ley Federal sobre Metrología y Normalización,

      Enlace

    • NMX-Z-012/2-1987 Muestreo para la inspección por atributos-Parte 2: Métodos de muestreo, tablas y gráficas

      Enlace

    • ISO 3497:2000 Metallic coatings – Measurement of coating thickness – X-ray spectrometric methods, Tercera edición (Diciembre 2000).

    • IS0 9220:1988 Metallic coatings-Measurement of coating thickness-Scanning electron microscope method, Primera edición (Septiembre 1988).

    • ISO 11210:2014 Jewellery — Determination of platinum in platinum jewellery alloys — Gravimetric method after precipitation of diammonium hexachloroplatinate, Segunda edición (Diciembre 2014).

    • ISO 13756:2015 Jewellery — Determination of silver in silver jewellery alloys — Volumetric (potentiometric) method using sodium chloride or potassium chloride, Segunda edición (Febrero 2015).

    • ISO 11426:2014 Jewellery — Determination of gold in gold jewellery alloys — Cupellation method (fire assay).

    • ISO 11427:2014, Jewellery — Determination of silver in silver jewellery alloys — Volumetric (potentiometric) method using potassium bromide, Segunda edición (Noviembre 2014).

    • ISO 11490:2015, Jewellery — Determination of palladium in palladium jewellery alloys — Gravimetric determination with dimethylglyoxime, Segunda edición (Febrero 2015).

    • ISO 11494:2019 Jewellery Determination of platinum in platinum jewellery alloys ICP-OES method using yttrium as internal standard element.

    • ISO 11495:2019 Jewellery Determination of palladium in palladium jewellery alloys ICP-OES method using yttrium as internal standard element.

    • ISO 11210:2014 Jewellery — Determination of platinum in platinum jewellery alloys — Gravimetric method after precipitation of diammonium hexachloroplatinate.

    • ISO 14594:2014 Microbeam analysis – Electron probe microanalysis – Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy

    • ISO 3497:2000 Metallic coatings – Measurement of coating thickness – X-ray spectrometric methods.

    • ISO 16700:2016 Microbeam analysis – Scanning electron microscopy – Guidelines for calibrating image magnification.

    • ISO 15632:2012 Microbeam analysis – Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis.

    • THE PRECIOUS METALS BOOK-CIBJO/PRECIOUS METALS-CIBJO/Precious Metals Commission PRECIOUS METALS COMMISSION 2010-1.

    • GUIDE TO THE PRECIOUS METALS MARKING ACT AND REGULATIONS. Competition Bureau Canada. ISBN 0-662-49351-6. Fecha de publicación: 2006-07-04.

    Organismos de Evaluación de la Conformidad
    Verificaciones
    PDF de la Norma